Pásztázó elektronmikroszkóp (PC-SEM)Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Pásztázó elektronmikroszkóp (PC-SEM)
Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Rögzített ár nem tartalmazza az áfát
35 000 EUR
Kondíció
Használt
Helyszín
Borken 

Fényképek megjelenítése
Térkép megjelenítése
Adatok a gépről
Ár és helyszín
Rögzített ár nem tartalmazza az áfát
35 000 EUR
- Helyszín:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, DE
Hívás
Ajánlat részletei
- Jegyzékazonosító:
- A108-74957
- Referenciaszám:
- 23543
- Utoljára frissítve:
- ekkor: 15.11.2024
Leírás
Itt kínálunk Önnek egy Jeol pásztázó elektronmikroszkópot.
Jeol JSM-6490 pásztázó elektronmikroszkóp (PC-SEM)
Korszerű, nagy felbontású, digitális pásztázó elektronmikroszkóp
Újonnan kifejlesztett elektronoptikával és intuitív,
grafikus felhasználói felület (GUI) Microsoft WindowsXP Professional alatt.
Nagyítási tartomány: 5 X - 300 000 X
Gyorsítófeszültség: 0,3 - 30 kV
Volfrám hajszálcsöves katód (LaB6 katód választható)
nagyméretű, teljesen motorizált mintaállvány excentrikusan
billenéssel, beleértve a
Grafikus navigáció a mintatartón
Könnyű mintanavigáció a kattintásközpontos zoomolással
Képmezővel vezérelt navigáció 2 navigátoron keresztül
Relatív koordináta navigáció
A minta pozíciójának mentése és újraindítása
A mintaállvány állítható blldschnittswelses mozgatása
Mezőkorrekció forgatás közben számítógép-vezérelt euközpontos segítségével
excentrikus forgatás
Képmező-korrekció billenés közben számítógép-vezérlésű
vezérelt eukcentrikus billenés
A lehetséges dőlésszög kiszámítása a
minta geometriája alapján
automatikus fókuszkövetés a minta mozgatásakor
a minta Z-tengelyben történő mozgatása
intelligens végálláskapcsolók a motorizált tengelyekhez
A mintaállvány mozgása:
x=125mm
Y=100mm
z= 5-80 mm (folyamatos)
T= -10°C és + 90°C között
R= 360°C (végtelen)
Szekunder elektron detektor nagyvákuumos működéshez
Újszerű, szuperkonikus objektívlencse garantálja a legnagyobb képet
felbontást még nagy dőlésszögek esetén is
Garantált felbontás Az SE-képben: 3 nm 30 kV-on és
15 nm 1 kV-nál
Több detektor egyidejű élő képmegjelenítése
Egyszerű mintanavigáció a Cllck Centre Zoom segítségével
Hatékony képmérési funkciók
Film funkció a dinamikus folyamatok rögzítéséhez
Sokoldalú mintakamra számos
szabad karimákkal, pl. EDX, WDX számára,
EBSD, katodolumineszcencia stb.
Alacsony karbantartási igényű és kis kopásigényű, csendes szivattyúrendszer
amely előszivattyúból, rezgésmentes, nagy rugalmasságú diffúziós szivattyúból áll
és elektromágneses szelepvezérlés
Kiterjedt hibavédelem a hibás működés ellen
és a külső közegek meghibásodása ellen
Ergonomikus, állítható magasságú rendszerasztal
REM indítókészlet, amely 2 mintatartóból áll,
szerszámkészlet és 6 tartalék katód
Kiegészítő felszerelés
2x ΜΡ-43100 (TMP)
Turbomolekuláris szivattyú
a standard diffúziós szivattyú helyett
Turbomolekuláris szivattyú használata esetén a hűtővíz már nem
nincs szükség több hűtővízre a SEM működéséhez.
További berendezések:
Dwedpfx Aomn Rcqodrec
PC a SEM vezérléséhez
TFT-monitorral együtt
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX rendszer KIEGÉSZÍTVE
Nitrogénmentes, energiadiszperzív röntgenelemző rendszer.
incl:
SDD detektor 127 eV vagy jobb energiafelbontással.
Minden elem kimutatása a bórtól kezdve
Rezgésmentes, karbantartásmentes. Peltier-hűtés (nitrogénmentes)
Impulzusprocesszor
TFT-monitor
Spektrummérés és elembontás
Teljesen automatikus, mennyiségi, szabványmentes
elemanalízis
Képfelvétel
Szupergyors minőségi LIneScan
Szupergyors minőségi elemtérképezés
Adatkezelési és archiválási rendszer
Jelentéskészítés és eredménykimutatás
Adatkommunikáció
Telepítés és képzés
HyperMap
Többpontos elemzés
Bruker xFlash detektor (SDD) SVE III jelfeldolgozó egységgel
Típus: Jeol JSM-6490
Szállítási terjedelem: (lásd a fényképeket)
Állapot: használt / használt
(A műszaki adatokban, specifikációkban bekövetkezett változások és hibák fenntartva).
További kérdéseire szívesen válaszolunk Önnek telefonon.
A hirdetés automatikusan került lefordításra, éppen ezért fordítási hibák előfordulhatnak.
Jeol JSM-6490 pásztázó elektronmikroszkóp (PC-SEM)
Korszerű, nagy felbontású, digitális pásztázó elektronmikroszkóp
Újonnan kifejlesztett elektronoptikával és intuitív,
grafikus felhasználói felület (GUI) Microsoft WindowsXP Professional alatt.
Nagyítási tartomány: 5 X - 300 000 X
Gyorsítófeszültség: 0,3 - 30 kV
Volfrám hajszálcsöves katód (LaB6 katód választható)
nagyméretű, teljesen motorizált mintaállvány excentrikusan
billenéssel, beleértve a
Grafikus navigáció a mintatartón
Könnyű mintanavigáció a kattintásközpontos zoomolással
Képmezővel vezérelt navigáció 2 navigátoron keresztül
Relatív koordináta navigáció
A minta pozíciójának mentése és újraindítása
A mintaállvány állítható blldschnittswelses mozgatása
Mezőkorrekció forgatás közben számítógép-vezérelt euközpontos segítségével
excentrikus forgatás
Képmező-korrekció billenés közben számítógép-vezérlésű
vezérelt eukcentrikus billenés
A lehetséges dőlésszög kiszámítása a
minta geometriája alapján
automatikus fókuszkövetés a minta mozgatásakor
a minta Z-tengelyben történő mozgatása
intelligens végálláskapcsolók a motorizált tengelyekhez
A mintaállvány mozgása:
x=125mm
Y=100mm
z= 5-80 mm (folyamatos)
T= -10°C és + 90°C között
R= 360°C (végtelen)
Szekunder elektron detektor nagyvákuumos működéshez
Újszerű, szuperkonikus objektívlencse garantálja a legnagyobb képet
felbontást még nagy dőlésszögek esetén is
Garantált felbontás Az SE-képben: 3 nm 30 kV-on és
15 nm 1 kV-nál
Több detektor egyidejű élő képmegjelenítése
Egyszerű mintanavigáció a Cllck Centre Zoom segítségével
Hatékony képmérési funkciók
Film funkció a dinamikus folyamatok rögzítéséhez
Sokoldalú mintakamra számos
szabad karimákkal, pl. EDX, WDX számára,
EBSD, katodolumineszcencia stb.
Alacsony karbantartási igényű és kis kopásigényű, csendes szivattyúrendszer
amely előszivattyúból, rezgésmentes, nagy rugalmasságú diffúziós szivattyúból áll
és elektromágneses szelepvezérlés
Kiterjedt hibavédelem a hibás működés ellen
és a külső közegek meghibásodása ellen
Ergonomikus, állítható magasságú rendszerasztal
REM indítókészlet, amely 2 mintatartóból áll,
szerszámkészlet és 6 tartalék katód
Kiegészítő felszerelés
2x ΜΡ-43100 (TMP)
Turbomolekuláris szivattyú
a standard diffúziós szivattyú helyett
Turbomolekuláris szivattyú használata esetén a hűtővíz már nem
nincs szükség több hűtővízre a SEM működéséhez.
További berendezések:
Dwedpfx Aomn Rcqodrec
PC a SEM vezérléséhez
TFT-monitorral együtt
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX rendszer KIEGÉSZÍTVE
Nitrogénmentes, energiadiszperzív röntgenelemző rendszer.
incl:
SDD detektor 127 eV vagy jobb energiafelbontással.
Minden elem kimutatása a bórtól kezdve
Rezgésmentes, karbantartásmentes. Peltier-hűtés (nitrogénmentes)
Impulzusprocesszor
TFT-monitor
Spektrummérés és elembontás
Teljesen automatikus, mennyiségi, szabványmentes
elemanalízis
Képfelvétel
Szupergyors minőségi LIneScan
Szupergyors minőségi elemtérképezés
Adatkezelési és archiválási rendszer
Jelentéskészítés és eredménykimutatás
Adatkommunikáció
Telepítés és képzés
HyperMap
Többpontos elemzés
Bruker xFlash detektor (SDD) SVE III jelfeldolgozó egységgel
Típus: Jeol JSM-6490
Szállítási terjedelem: (lásd a fényképeket)
Állapot: használt / használt
(A műszaki adatokban, specifikációkban bekövetkezett változások és hibák fenntartva).
További kérdéseire szívesen válaszolunk Önnek telefonon.
A hirdetés automatikusan került lefordításra, éppen ezért fordítási hibák előfordulhatnak.
Szállító
Megjegyzés: Regisztráljon ingyenesen vagy jelentkezzen be, hogy hozzáférjen minden információhoz.
Kérelem küldése
Telefon & Fax
+49 2861 ... hirdetések
A hirdetése sikeresen törölve lett
Hiba történt